Design and Test of Computers: Desing and Test for Reliability and Efficiency. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society
Tipo de material:
Recurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2008Descripción: v. ; 27cmISSN: - 0740-7475
- D457
Contenidos:
510-The State of ESL Design. 520-Advances in ESL Design. 528-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 538-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 549-Defect Tolerance for Nanoscale Crossbar-Based Devices. 560-A Systematic Approach to Memory Test Time Reduction. 572-Multisynchronous and Fully Asynchronous NoCs for GALS Architectures. 581-Application Scenarios in Streaming-Oriented Embedded-System Design. 590-Managing Security in FPGA-Based Embedded Systems.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Publicación Periódica
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Biblioteca Rafael Meza Ayau | Hemeroteca | D457 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 01 | Disponible | 44439 |
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510-The State of ESL Design. 520-Advances in ESL Design. 528-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 538-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 549-Defect Tolerance for Nanoscale Crossbar-Based Devices. 560-A Systematic Approach to Memory Test Time Reduction. 572-Multisynchronous and Fully Asynchronous NoCs for GALS Architectures. 581-Application Scenarios in Streaming-Oriented Embedded-System Design. 590-Managing Security in FPGA-Based Embedded Systems.
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