Design and Test of Computers: (Registro nro. 27434)
[ vista simple ]
| 000 -LIDER | |
|---|---|
| Campo de control de longitud fija | 01296nas a22002174504500 |
| 008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACION GENERAL | |
| Campo de control de longitud fija | 040528/20082008//////p/r///////////eng// |
| 022 ## - INTERNATIONAL STANDARD SERIAL NUMBER | |
| ISSN | 0740-7475 |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACION | |
| Agencia de catalogación original | SV-SoUDB |
| Idioma de catalogación | spa |
| 041 ## - CODIGO DE IDIOMA | |
| Código de idioma para texto/pista de sonido o título separado | eng |
| 082 0# - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY | |
| Notación interna | D457 |
| Año de publicación | 2008 |
| 245 00 - TITULO | |
| Título | Design and Test of Computers: |
| Subtítulo | Desing and Test for Reliability and Efficiency. / |
| Mención de responsabilidad | IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society |
| 260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC. | |
| Lugar de publicación | Nueva Jersey, Estados Unidos: |
| Nombre del editor | IEEE Computer Society |
| Fecha de publicación | 2008 |
| 300 ## - DESCRIPCION FISICA | |
| Extensión | v. ; |
| Dimensiones | 27cm. |
| 310 ## - FRECUENCIA ACTUAL DE LA PUBLICACION | |
| Frecuencia actual de la publicación | Bimensual |
| 362 ## - FECHA DE PUBLICACION Y/O DESIGNACION SECUENCIAL | |
| Fechas de publicación y/o designación secuencial | November/December 2008, Vol. 25, No. 6 |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO | |
| Nota de contenido | 510-The State of ESL Design. 520-Advances in ESL Design. 528-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 538-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 549-Defect Tolerance for Nanoscale Crossbar-Based Devices. 560-A Systematic Approach to Memory Test Time Reduction. 572-Multisynchronous and Fully Asynchronous NoCs for GALS Architectures. 581-Application Scenarios in Streaming-Oriented Embedded-System Design. 590-Managing Security in FPGA-Based Embedded Systems. |
| 650 17 - MATERIA--TERMINO TEMATICO | |
| Termino tematico o nombre geografico | TECNOLOGÍA |
| Source of heading or term | LEMB |
| 9 (RLIN) | 200 |
| Subdivision de forma | PUBLICACIONES SERIADAS |
| 710 2# - ENTRADA SECUNDARIA-AUTOR CORPORATIVO | |
| Nombre de Autor Corporativo Secundario | The Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| 942 ## - AGREGAR ELEMENTOS DE ENTRADA (KOHA) | |
| Fuente de clasificación o esquema de estanterías | Dewey Decimal Classification |
| Fecha de catalogación | 28/05/2004 |
| Tipo de item | Publicación Periódica |
| Edción | Jorge Bonilla |
| Estado retirado | No para préstamo | Codigo de colección | Ubicación permanente | Ubicación actual | Fecha de adquisición | Forma de adquisición | Costo, Precio | Signatura dewey | Codigo de barras | Fecha de la última visita | Numero de copia | Tipo de item koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Hemeroteca | Biblioteca Rafael Meza Ayau | Biblioteca Rafael Meza Ayau | 01/02/2008 | Compra | 5.00 | D457 2008 | 44439 | 11/11/2019 | 01 | Publicación Periódica |
2251-8215
