Design and Test of Computers: Desing and Test for Reliability and Efficiency. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society

Colaborador(es): Tipo de material: Recurso continuoRecurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey​, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2008Descripción: v. ; 27cmISSN:
  • 0740-7475
Tema(s): Clasificación CDD:
  • D457
Contenidos:
510-The State of ESL Design. 520-Advances in ESL Design. 528-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 538-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 549-Defect Tolerance for Nanoscale Crossbar-Based Devices. 560-A Systematic Approach to Memory Test Time Reduction. 572-Multisynchronous and Fully Asynchronous NoCs for GALS Architectures. 581-Application Scenarios in Streaming-Oriented Embedded-System Design. 590-Managing Security in FPGA-Based Embedded Systems.
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Publicación Periódica Publicación Periódica Biblioteca Rafael Meza Ayau Hemeroteca D457 2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) 01 Disponible 44439

510-The State of ESL Design. 520-Advances in ESL Design. 528-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 538-Wafer Test Methods to Improve Semiconductor Die Reliability. 549-Defect Tolerance for Nanoscale Crossbar-Based Devices. 560-A Systematic Approach to Memory Test Time Reduction. 572-Multisynchronous and Fully Asynchronous NoCs for GALS Architectures. 581-Application Scenarios in Streaming-Oriented Embedded-System Design. 590-Managing Security in FPGA-Based Embedded Systems.

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