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		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Automated Source-Level Debugging. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2006 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2006. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Next-Generation Design and Test Innovations. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on Emerging Interconnect Technologies for Gigascale Integration. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Testing and Diagnosis. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on Compact Variability Modeling in Scaled CMOS Design. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on Verifying Physical Trustworthiness of ICs and Systems. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on 3D IC Design and Test. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on High-Level Synthesis. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on IEEE Std 1500 and Its Usage-Part 2. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: Special Issue on Managing Emerging SoC Development. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Design and Test of Computers: IEEE Std 1500 and Its Usage. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society por The Institute of Electrical and Electronics Engineers Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: D457 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Social Networking. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Green Desing. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Information Overload. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2010. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Leading Engineers. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Teaching Engineering. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2009. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Systems Engineering. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2008 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2008. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Competitive Intelligence. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2008 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2008. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Leading Small Groups. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2008 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2008. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		No hay imagen de cubierta disponible Engineering Management Review : Sustainable Design. / IEEE. por IEEE Tipo de material: Recurso continuo; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Detalles de publicación: Estados Unidos : IEEE, 2007 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Rafael Meza Ayau (1)Signatura topográfica: EN57 2007. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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