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Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos / autor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fernández, Prof. Tit., Ing. Antonio Díaz Batista.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoEditor: La Habana : Editorial Universitaria, 2015Descripción: 1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablasTipo de contenido:
  • texto
Tipo de medio:
  • computadora
Tipo de soporte:
  • recurso en línea
ISBN:
  • 9789591628671 (e book)
Tema(s): Género/Forma: Clasificación CDD:
  • 658.5
Clasificación LoC:
  • T56 I431 2015
Recursos en línea: Nota de disertación: Doctor en Ciencias Técnicas Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría" 2013.
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Doctor en Ciencias Técnicas Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría" 2013.

Contiene bibliografía.

Descripción basada en recurso en línea; Título de la página del título en PDF (e-libro, visto March 12, 2015).

Recurso electronico. Santa Fe, Arg. : e-libro, 2016. Disponible via World Wide Web. El acceso puede ser limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.

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