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Infante Abreu, Marta Beatriz.

Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos / autor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fernández, Prof. Tit., Ing. Antonio Díaz Batista. - 1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas



Contiene bibliografía.

ISBN: 9789591628671 (e book)

Subjects--Topical Terms:
Industrial engineering.
Ingeniería industrial.

Index Terms--Genre/Form:
Libros electrónicos.

LC Class. No.: T56 / I431 2015

Dewey Class. No.: 658.5

Universal Decimal Class. No.: 658.5