Design and Test of Computers: Automated Source-Level Debugging. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society

Colaborador(es):

The Institute of Electrical and Electronics Engineers

Tipo de material:

Recurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2006Descripción: v. ; 27cmISSN:

0740-7475

Tema(s):

TECNOLOGÍA -- PUBLICACIONES SERIADAS

Clasificación CDD:

D457

Contenidos:

8-Automated Source-Level Error Localization in Hardware Designs. 20-MOSFET Mismatch Modeling: A New Approach. 30-Logic Design for Printability Using OPC Methods. 38-Early, Accurate Dependability Analysis of CAN-Based Networked Systems. 46-Source-Synchronous Testing of Multilane PCI Express and HyperTransport Buses. 58-Efficient Parametric Fault Detection in Switched-Capacitor Filters.

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Publicación Periódica	Biblioteca Rafael Meza Ayau	Hemeroteca	D457 2006 (Navegar estantería(Abre debajo))	01	Disponible	37121

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