Design and Test of Computers: IR-Drop and Power Supply Noise Effects on Design and Test of Very Deep-Submicron Designs. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society

Colaborador(es):

The Institute of Electrical and Electronics Engineers

Tipo de material:

Recurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2007Descripción: v. ; 27cmISSN:

0740-7475

Tema(s):

TECNOLOGÍA -- PUBLICACIONES SERIADAS

Clasificación CDD:

D457

Contenidos:

214-Guest Editors' Introduction: IR Drop in Very Deep-Submicron Designs. 2016-A Production IR-Drop Screen on a Chip. 226-Modeling Power Supply Noise in Delay Testing. 236-Power Supply Noise in SoCs: Metrics, Management, and Measurement. 246-Power Grid Physics and Implications for CAD. 256-Analysis of Power Supply Noise in the Presence of Process Variations. 268-Scan-Based Tests with Low Switching Activity. 276-Power Droop Testing.

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Publicación Periódica	Biblioteca Rafael Meza Ayau	Hemeroteca	D457 2007 (Navegar estantería(Abre debajo))	01	Disponible	39847

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