Design and Test of Computers: IR-Drop and Power Supply Noise Effects on Design and Test of Very Deep-Submicron Designs. / IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society

Colaborador(es): Tipo de material: Recurso continuoRecurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: Nueva Jersey​, Estados Unidos: IEEE Computer Society 2007Descripción: v. ; 27cmISSN:
  • 0740-7475
Tema(s): Clasificación CDD:
  • D457
Contenidos:
214-Guest Editors' Introduction: IR Drop in Very Deep-Submicron Designs. 2016-A Production IR-Drop Screen on a Chip. 226-Modeling Power Supply Noise in Delay Testing. 236-Power Supply Noise in SoCs: Metrics, Management, and Measurement. 246-Power Grid Physics and Implications for CAD. 256-Analysis of Power Supply Noise in the Presence of Process Variations. 268-Scan-Based Tests with Low Switching Activity. 276-Power Droop Testing.
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Publicación Periódica Publicación Periódica Biblioteca Rafael Meza Ayau Hemeroteca D457 2007 (Navegar estantería(Abre debajo)) 01 Disponible 39847

214-Guest Editors' Introduction: IR Drop in Very Deep-Submicron Designs. 2016-A Production IR-Drop Screen on a Chip. 226-Modeling Power Supply Noise in Delay Testing. 236-Power Supply Noise in SoCs: Metrics, Management, and Measurement. 246-Power Grid Physics and Implications for CAD. 256-Analysis of Power Supply Noise in the Presence of Process Variations. 268-Scan-Based Tests with Low Switching Activity. 276-Power Droop Testing.

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