Design and Test of Computers: (Registro nro. 30074)
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000 -LIDER | |
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Campo de control de longitud fija | 01384nas a22002174504500 |
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACION GENERAL | |
Campo de control de longitud fija | 040528/20102010//////p/r///////////eng// |
022 ## - INTERNATIONAL STANDARD SERIAL NUMBER | |
ISSN | 0740-7475 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACION | |
Agencia de catalogación original | SV-SoUDB |
Idioma de catalogación | spa |
041 ## - CODIGO DE IDIOMA | |
Código de idioma para texto/pista de sonido o título separado | eng |
082 0# - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY | |
Notación interna | D457 |
Año de publicación | 2010 |
245 00 - TITULO | |
Título | Design and Test of Computers: |
Subtítulo | Special Issue on Postsilicon Calibration and Repair for Yield and Reliability Improvement. / |
Mención de responsabilidad | IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society |
260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC. | |
Lugar de publicación | Nueva Jersey, Estados Unidos: |
Nombre del editor | IEEE Computer Society, |
Fecha de publicación | 2010 |
300 ## - DESCRIPCION FISICA | |
Extensión | v. ; |
Otros detalles físicos | 27 cm. |
310 ## - FRECUENCIA ACTUAL DE LA PUBLICACION | |
Frecuencia actual de la publicación | Bimensual |
362 ## - FECHA DE PUBLICACION Y/O DESIGNACION SECUENCIAL | |
Fechas de publicación y/o designación secuencial | November/December 2010, Vol. 27, No. 6 |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO | |
Nota de contenido | 4-Guest Editors' Introduction: Managing Uncertainty through Postfabrication Calibration and Repair. 6-Analog Signature- Driven Postmanufacture Multidimensional Tuning of RF Systems. 18-Self-Healing Phase-Locked Loops in Deep-Scaled CMOS Technologies. 26-Postsilicon Adaptation for Low-Power SRAM under Process Variation. 36-The Dawn of Predictive Chip Yield Design: Along and Beyond the Memory Lane. 46-A Built-in Method to Repair SoC RAMs in Parallel. 58-Runtime Thermal Management Using Software Agents for Multi- and Many-Core Architectures. |
650 17 - MATERIA--TERMINO TEMATICO | |
Termino tematico o nombre geografico | TECNOLOGÍA |
Source of heading or term | LEMB |
9 (RLIN) | 200 |
Subdivision de forma | PUBLICACIONES SERIADAS |
710 2# - ENTRADA SECUNDARIA-AUTOR CORPORATIVO | |
Nombre de Autor Corporativo Secundario | The Institute of Electrical and Electronics Engineers |
942 ## - AGREGAR ELEMENTOS DE ENTRADA (KOHA) | |
Fuente de clasificación o esquema de estanterías | Dewey Decimal Classification |
Fecha de catalogación | 28/05/2004 |
Tipo de item | Publicación Periódica |
Edción | Jorge Bonilla |
Estado retirado | No para préstamo | Codigo de colección | Ubicación permanente | Ubicación actual | Fecha de adquisición | Forma de adquisición | Costo, Precio | Signatura dewey | Codigo de barras | Fecha de la última visita | Numero de copia | Tipo de item koha |
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Hemeroteca | Biblioteca Rafael Meza Ayau | Biblioteca Rafael Meza Ayau | 01/01/2011 | Compra | 5.00 | D457 2010 | 48677 | 11/11/2019 | 01 | Publicación Periódica |