Design and Test of Computers: (Registro nro. 30074)

Detalles MARC
000 -LIDER
Campo de control de longitud fija 01384nas a22002174504500
008 - ELEMENTOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACION GENERAL
Campo de control de longitud fija 040528/20102010//////p/r///////////eng//
022 ## - INTERNATIONAL STANDARD SERIAL NUMBER
ISSN 0740-7475
040 ## - FUENTE DE CATALOGACION
Agencia de catalogación original SV-SoUDB
Idioma de catalogación spa
041 ## - CODIGO DE IDIOMA
Código de idioma para texto/pista de sonido o título separado eng
082 0# - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY
Notación interna D457
Año de publicación 2010
245 00 - TITULO
Título Design and Test of Computers:
Subtítulo Special Issue on Postsilicon Calibration and Repair for Yield and Reliability Improvement. /
Mención de responsabilidad IEEE, IEEE Computer Society y IEEE Circuits and Systems Society
260 ## - PUBLICACION, DISTRIBUCION, ETC.
Lugar de publicación Nueva Jersey​, Estados Unidos:
Nombre del editor IEEE Computer Society,
Fecha de publicación 2010
300 ## - DESCRIPCION FISICA
Extensión v. ;
Otros detalles físicos 27 cm.
310 ## - FRECUENCIA ACTUAL DE LA PUBLICACION
Frecuencia actual de la publicación Bimensual
362 ## - FECHA DE PUBLICACION Y/O DESIGNACION SECUENCIAL
Fechas de publicación y/o designación secuencial November/December 2010, Vol. 27, No. 6
505 ## - NOTA DE CONTENIDO
Nota de contenido 4-Guest Editors' Introduction: Managing Uncertainty through Postfabrication Calibration and Repair. 6-Analog Signature- Driven Postmanufacture Multidimensional Tuning of RF Systems. 18-Self-Healing Phase-Locked Loops in Deep-Scaled CMOS Technologies. 26-Postsilicon Adaptation for Low-Power SRAM under Process Variation. 36-The Dawn of Predictive Chip Yield Design: Along and Beyond the Memory Lane. 46-A Built-in Method to Repair SoC RAMs in Parallel. 58-Runtime Thermal Management Using Software Agents for Multi- and Many-Core Architectures.
650 17 - MATERIA--TERMINO TEMATICO
Termino tematico o nombre geografico TECNOLOGÍA
Source of heading or term LEMB
9 (RLIN) 200
Subdivision de forma PUBLICACIONES SERIADAS
710 2# - ENTRADA SECUNDARIA-AUTOR CORPORATIVO
Nombre de Autor Corporativo Secundario The Institute of Electrical and Electronics Engineers
942 ## - AGREGAR ELEMENTOS DE ENTRADA (KOHA)
Fuente de clasificación o esquema de estanterías Dewey Decimal Classification
Fecha de catalogación 28/05/2004
Tipo de item Publicación Periódica
Edción Jorge Bonilla
Existencias
Estado retirado No para préstamo Codigo de colección Ubicación permanente Ubicación actual Fecha de adquisición Forma de adquisición Costo, Precio Signatura dewey Codigo de barras Fecha de la última visita Numero de copia Tipo de item koha
    Hemeroteca Biblioteca Rafael Meza Ayau Biblioteca Rafael Meza Ayau 01/01/2011 Compra 5.00 D457 2010 48677 11/11/2019 01 Publicación Periódica