TY  - BOOK
AU  - Infante Abreu,Marta Beatriz
AU  - Delgado Fernández,Mercedes
AU  - Díaz Batista,Antonio
TI  - Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
SN  - 9789591628671 (e book)
AV  - T56 I431 2015
U1  - 658.5 
PY  - 2015///
CY  - La Habana
PB  - Editorial Universitaria
KW  - Industrial engineering
KW  - Ingeniería industrial
KW  - Libros electrónicos
N1  - Contiene bibliografía
UR  - https://elibro.net/ereader/bibliotecaudb/90796
UR  - https://biblio.udb.edu.sv/biblioteca/index.php/category/recursos-electronicos/
ER  -