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Sistemas de Medición : Principios y aplicaciones / John Bentley
Tipo de material:
TextoIdioma: Español Detalles de publicación: MEXICO, MEXICO : CECSA, 1999Edición: 2a edDescripción: 572 pISBN: - 9682612217
- 621.3192 B477
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Libro
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Biblioteca Rafael Meza Ayau | Colección General | 621.3192 B477 1999 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 001 | Disponible | 19542 | ||
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Libro
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Biblioteca Rafael Meza Ayau | Colección General | 621.3192 B477 1999 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 002 | Disponible | 19543 | ||
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Libro
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Biblioteca Rafael Meza Ayau | Colección General | 621.3192 B477 1999 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 003 | Disponible | 25732 |
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