IEEE Electrical Insulation Magazine - Celebrating 125 Years of Engineering the Future : Failure Data of 30 Years of Vintage Cable Over a 10 Year Period and the 10-Year Simple Average for One U. S. Circuit Owner (See Article Page 13). / IEEE.
Tipo de material:
Recurso continuoIdioma: Inglés Detalles de publicación: New York, Estados Unidos : IEEE, 2009.Descripción: v. ; 28 cmISSN: - 08837554
- EL38
Contenidos:
06- Diagnostic testing of stochastic cables. Por: G. J. Bertini. 13- Cable life and the cost of risk. Por: Ran Liu and Steven Boggs. 20- An approach to power transformer asset management using health index. Por: Ali Naderian Jahromi, Ray Piercy, Stephen Cress, Jim R. R. Service, and Wang Fan... (etc)
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Código de barras | |
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Publicación Periódica
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Biblioteca Rafael Meza Ayau | Hemeroteca | EL38 2009 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 01 | Disponible | 45575 |
06- Diagnostic testing of stochastic cables. Por: G. J. Bertini. 13- Cable life and the cost of risk. Por: Ran Liu and Steven Boggs. 20- An approach to power transformer asset management using health index. Por: Ali Naderian Jahromi, Ray Piercy, Stephen Cress, Jim R. R. Service, and Wang Fan... (etc)
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